高度加速寿命试验机

HAST加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

产品特点
符合国际规范的三项控制模式：
可满足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118规范要求，3种控制模式包含：不饱和控制(干湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。
符合规范单槽结构设计：
IEC60068-2-66、JESDEC A110、A118
模式新升级：
出色的温湿度精密控制逻辑，防止待测品潮湿与结露的模式选择。
压力数据真实呈现：
压力值采实际感应侦测，确保温度、湿度及压力值准确度。
全方位安全保护系统：
三道高温保护装置、湿度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等...，完善的保护装置，保障实验室与操作人员安全。
完善的扩充选择：
保护待测品的时序装置&BIAS电压端子：符合JESD22-A110之实验规范要求，模拟待测品在高温、高湿环境下，加载最大工作电压，检测内部封装模组材料接合与保护层的渗透，并且观察是否造成迁移。